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西派克詳解顯微鏡通常問題的解決方案

時間:2014年06月19日 信息來源:本站原創 點擊: 加入收藏 】【 字體:

  體式顯微鏡用于對電子零件\集成線路板\轉頭刀具\磁鐵等的立體查抄和視察?;谶@些差別被測物體必要在差別倍數狀態下觀察,怎樣順應這些差別要求?可通過多個方面來辦理a.可通過光學性能b.可選擇視頻視察c.可通過機器性能d.可通過光源照明憑據被測物體被觀察要求,通過選用差另外目鏡\物鏡來辦理大倍數大視場等題目。只要求大倍數時,可通過調換大倍數量鏡及物鏡,要求看大視野時可通過調換物鏡,減小目鏡來到達要求。

  當光學放大倍數不敷時,可以用電子放大倍數來做賠償。同時視察以及盼望可以大概存儲保存時,我們可以選擇視頻。視頻方法有多種:A.可以直接通過監督器B.可以毗連電腦(通過數字CCD或模仿CCD圖像收羅卡)C可以毗連數碼相機(差另外數碼相秘密思量到差別接口以及同顯微鏡的配套性)

  遇到一些焊接,組裝,較大集成線路板查抄范疇以及對事情間隔有要求時,我們可以通過機器性能來辦理,如萬向支架,搖臂支架,大移動平臺等。借助他們的性能特點,當檢測大物體時直接通過支架寧靜臺就能完成我們的檢測事情。無需移動我們的被測物體。比方:ABB公司由于被檢測電路板比力大而且必要渺小的傾斜視察,電路板移動起來很困難,只能通過機器移動來完成檢測事情。萬向支架的功效能同時滿意這些利用要求。

  光源照明對可否看清被測物體起著至關緊張的作用,當選擇照明時肯定要憑據被測物體自己的特點(要思量到它對光的要求,強\弱\反光等)來選擇相應的照明東西以及打光方法。

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