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UFM超聲原子力顯微鏡工作原理和優勢

時間:2014年06月23日 信息來源:本站原創 點擊: 加入收藏 】【 字體:

  超聲原子力顯微成像可以100微米到納米尺度對材料表面模量分布進行成像分析遙該技術基于掃描探針成像技術利用原子間的范德華力作用來呈現樣品的表面特性。

   工作原理:

  AFAM 是基于掃描探針成像技術發展起來的 利用原子間的范德華力作用來呈現樣品的表面特性遙 將樣品耦合到超聲換能器之上 換能器發出縱波激勵樣品 使樣品表面振動遙 利用微小懸臂來感測針尖與樣品表面之懸臂間的交互作用 這作用力會使懸臂擺動 再利用激光將光照射在懸臂的末端 當擺動形成時 會使反射光的位置改變而造成偏移量 此時激光檢測器會記錄此偏移量 也會把此時的信 給反饋系統 以利于系統做適當 的調整 最后該信 與換能器信 進行鎖相放大得到樣品的表面特性 除了得到模量成像分別圖像還同時得到表面形貌圖像。

  優勢:

  ● 目前最先進的掃描探測顯微技術,可在納米尺度

  ● 得到材料表面彈性性能分布圖像。

  ● 可以測量薄膜彈性性能。

  ● 使得硬度和楊氏模量的數值計算成為可能。

  ● 圖片的對比度遠遠優于其他方法得到的圖片。

  ● 可以在空氣中和液體環境中測量。

  ● 是一種無損的方法。

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